PRZYGOTOWANIE PRÓBEK DO XRF LOI

System przygotowania próbek do analiz XRF firmy Navas Instruments metodą stapiania (fuzji) z uwzględnieniem analizy strat prażenia (LOI) w jednym przebiegu.

Powszechnie znany jest fakt, że przygotowanie próbki do badań z wykorzystaniem techniki fluorescencji rentgenowskiej (XRF) jest niezwykle istotnym etapem, od przebiegu którego zależy precyzja wyników. Wielokrotnie zostało dowiedzione, że próbka w postaci zeszklonej, stopionej płytki daje dokładniejsze wyniki niż w przypadku jej przygotowana metodą prasowania proszku.

Obecnie przygotowanie próbek metodą stapiania jest kłopotliwe, wymaga dużego zaangażowania użytkownika i pochłania dużo czasu. ZA KAŻDYM RAZEM wiąże się z eksperymentowaniem, ponieważ przygotowanie pytek w PIECU nie daje żadnej informacji zwrotnej o przebiegu tego procesu: piec po prostu spieka ze sobą boran i próbkę.

Dlatego istnieje oczywista potrzeba uproszczenia procesu fuzji, aby nie zależał on w takim stopniu od operatora, był szybszy, czystszy i, co najważniejsze, POWTARZALNY, Z JEDNOLITYMI WYNIKAMI.

PROBLEMY ZWIĄZANE Z PRZYGOTOWANIEM SZKLISTYCH PŁYTEK DO ANALIZ XRF:

1. Czyszczenie tygla.
2. Zmiany wilgotności i wartości LOI
3. Brak jednorodności próbek
4. Wiarygodność instrumentu i koszt jego posiadania
5. Zużycie energii
6. Czas stracony na znalezienie odpowiednich parametrów eksperymentów stapiania metodą fuzji, a jednocześnie nigdy tak naprawdę nie wiadomo, czy są one do końca właściwe.
7. Brak możliwości rozbudowy.
8. Co najważniejsze: wartość LOI próbek, ponieważ ulegają one fuzji.

Firma Navas Instruments opracowała aparat i metody, które UPRASZCZAJĄ przygotowanie próbek, czyniąc z tej procedury metodę wzorcową, która zamiast być FORMĄ SZTUKI, jest po prostu praktyczna i każdy może takie próbki przygotowywać.